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    汞探针测试仪 C-V Probes

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    汞探针测试仪 C-V Probes

    1. 详细信息

    应用领域: IC fab, wafer manufacturing, solar cell, LED, MEMS, FPD, photonics. 
    设备特性: Four Dimensions 提供从手动到全自动的系列汞探针C-V/I-V 测试仪。 
    ·应用广泛: 介质薄膜品质, 外延层、离子注入层, 载流子浓度分布, 界面缺陷, SOI晶片特性, 铁电体材料特性等等。
    ·具有不同面积汞接触, 点-环接触等功能,针对厚膜、极薄膜及SOI等各类应用.
    ·积4D 三十年经验, 产品质量高, 性价好.

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